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          Mitutoyo物鏡鏡頭套件D1 378-931

          更新時間:2024-07-30

          簡要描述:

          Mitutoyo物鏡鏡頭套件D1 378-931
          BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套

          型號:廠商性質:經銷商瀏覽量:844
          品牌MITUTOYO/日本三豐貨號378-931
          規格378-931供貨周期現貨
          主要用途顯微鏡應用領域環保,化工,生物產業,電子

          Mitutoyo物鏡鏡頭套件D1 378-931

           鏡頭套件
          鏡頭套件D1 378-931 BD Plan Apo 10×、20×、50×、100× 4件套

          BD Plan Apo
          BD Plan Apo 2× ※1 378-831-7 0.055 34.0 100 5.0 91 12 2.4×3.2 340
          BD Plan Apo 5× 378-832-7 0.14 34.0 40 2.0 14 4.8 0.96×1.28 350
          BD Plan Apo 7.5× 378-830-7 0.21 34.0 26.67 1.3 6.2 3.6 0.64×0.85 350
          BD Plan Apo 10× 378-833-7 0.28 34.0 20 1.0 3.5 2.4 0.48×0.64 350
          BD Plan Apo 20× 378-834-7 0.42 20.0 10 0.7 1.6 1.2 0.24×0.32 400
          BD Plan Apo 50× 378-835-7 0.55 13.0 4 0.5 0.9 0.48 0.10×0.13 440
          BD Plan Apo 100× 378-836-7 0.70 6.0 2 0.4 0.6 0.24 0.05×0.06 460
          BD Plan Apo HR
          BD Plan Apo HR 50× 378-845-7 0.75 5.2 4 0.4 0.49 0.48 0.10×0.13 530
          BD Plan Apo HR 100× 378-846-7 0.90 1.3 2 0.3 0.34 0.24 0.05×0.06 545

           NA=Numerical Aperture的略語
          數值孔徑NA是決定物鏡分辨力、焦深、圖像亮度的重要數值。
          數值孔徑NA通過下列公式來表示,其數值越大,就越能得到高分辨力、焦深淺的圖像
          n是物鏡頂端與工件之間的媒介具有的屈光率,在空氣中n=1.0。是通過物鏡外側的光線與鏡頭中心(光軸)之間形成的角度
          R=Resolving power的略語
          能夠將離得很近的點或線區分開來的小間隔叫做分辨力,表示解像度的極限。
          分辨力(R)由數值孔徑NA和波長(λ)來決定
          W.D.=Working Distance的略語
          是指對準焦點時從試樣上表面到物鏡前端的距離
          齊焦距離
          是指對準焦點時,從試樣上表面到物鏡安裝位置的距離

           


          通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的
          組合,能夠對同一位置以不同倍率同時觀
          察。
          (低倍率側:2/3型、高倍率側:1/2型等)

          通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現高精度、高
          品質加工。
          與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
          保護膜、有機薄膜等的剝離
          金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
          FPD的各種缺陷修正
          光掩模修正
          標記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線


          憑借長動作距離設計的物鏡,實現優異的操作性。
          與定位器、探針臺等組合。
          通過與激光加工裝置組合,還可支持不良分析→部分修正無縫銜接的系統。
          此外,還提供支持隔著玻璃的、真空內的外觀檢查的系統

           M Plan Apo NIR系列等支持紅外區的物鏡組合,可在紅外線下實
          現可見光下做不到的非破壞性檢查。
          ★液晶薄膜、硅基板等的厚度測量
          ★MEMS內部的非破壞評價、三維安裝評價
          ★半導體封裝(IC)的內部觀察、晶圓鍵合空洞評價傳感器
          ★紅外分光特性分析

           Mitutoyo物鏡鏡頭套件D1 378-931

           

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