日本電測膜厚計EX-731

X射線熒光膜厚度計EX-731

以*的精度測量極小部件，具有出色的可操作性
也可以測量大尺寸底座

·通過使用雙重濾波器實現(xiàn)精度，可在條件下進行測量
·通過將鼠標對準測量位置實現(xiàn)快速對準· 
即使在多任務(wù)功能測量期間也可以進行其他處理，包括報告創(chuàng)建
·小準直器可以測量直徑為0.05 mm的極小部件

X射線熒光膜厚度計EX-731的特點

雙濾鏡采用

除數(shù)字濾波器外，機械濾波器（雙濾波器）可用于在條件下進行測量，以便始終獲得精度。

自動測量階段

我們通過將鼠標放在測量位置來實現(xiàn)快速對齊。另外，如果登記測量位置，也可以進行連續(xù)自動測量。通過通道鏈接對應(yīng)各種模式的坐標校正。標準板校準也可以自動測量。

完整的報告準備功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并具有完整的報告創(chuàng)建功能。即使使用測量，多任務(wù)也可以進行其他處理，包括創(chuàng)建報告。

5種內(nèi)臟器官

準直器的小直徑為0.1φmm，可以測量極小的部件。標準·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
· 
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護功能

自診斷功能可以快速解決設(shè)備故障。此外，還增加了X射線管使用時間和耐久時間顯示功能，以支持維護安全。

薄膜厚度測量期間的光譜顯示

使用多通道進行頻譜分析高速處理可實現(xiàn)對象的簡單操作和頻譜顯示。（處理速度約2-3秒）

顯示測量單位監(jiān)視器圖像

將X射線照射單元裝載在Windows屏幕上并顯示X射線照射單元。準直器使得可以改變放大率。

目視顯示待測物體的鍍層附著力分布

三維圖形顯示使得可以一目了然地理解被測物體的鍍層厚度分布。

關(guān)于Be window X射線管（選項）的性能提高（高精度）

            我們?yōu)閄射線熒光膜厚度計EX-731準備了Be X射線管（可選）
            。通過使用該選項，
            可以在Cr測量和Ni測量中大大提高重復(fù)測量的精度。

            關(guān)于績效改進的說明

            高能量（高原子序數(shù)）Sn 
         的測量與以前相同，但是在測量低能量（低原子序數(shù)）Cr和Ni的情況下，取決于膜厚度，Cr超過3倍，Ni超過2倍或更多重復(fù)
         倒鉤精度有所改善。如果在兩個層測量表面層的Au是略中間
         層的Ni已經(jīng)由約20％提高接收貢獻的精度。熒光X射線法的厚度計
         在生成其中獲得的熒光X射線強度的過程中的情況下，重復(fù)測定精度（標準偏差）
         是由于統(tǒng)計波動確定的，施加成為窗口的X射線管（可選）
         由此可知，與以往的標準機相比，在Cr的情況下，獲得了約9倍以上的熒光X射線強度
         。因此，可以在短時間內(nèi)以與傳統(tǒng)相同的精度進行測量。
         請考慮使用此Be窗口X射線管。

測量屏幕

自動測量位置檢查

直方圖

3D圖形

X射線熒光膜厚度計EX-731的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7

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