日本電測膜厚計(jì)COSMOS-3X

X射線熒光膜厚度計(jì)COSMOS-3X

小空間和空間測量
極小部件，具有出色的可操作性和
精度

·采用雙濾波器實(shí)現(xiàn)精度，
在條件下進(jìn)行測量·多任務(wù)功能可實(shí)現(xiàn)其他處理，包括在測量過程中創(chuàng)建報(bào)告
·準(zhǔn)直器小值為0.05φmm，可測量極小部分

X射線熒光膜厚度計(jì)COSMOS-3X的特點(diǎn)

雙濾鏡采用

除數(shù)字濾波器外，機(jī)械濾波器（雙濾波器）可用于在件下進(jìn)行測量，以便始終獲得精度。

完整的報(bào)告準(zhǔn)備功能

通過采用MS-Windows軟件，您可以輕松捕獲測量屏幕并具有完整的報(bào)告創(chuàng)建功能。即使使用測量，多任務(wù)也可以進(jìn)行其他處理，包括創(chuàng)建報(bào)告。

5種內(nèi)臟器官

準(zhǔn)直器的小直徑為0.1φmm，可以測量極小的部件。標(biāo)準(zhǔn)·0.1,0.2,0.5,1.0,2.0 
另外，有兩種特殊規(guī)格可供選擇。
· 
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5·0.05×0.5,0.5×0.05,0.1,0.2,0.5

自診斷功能和X射線管維護(hù)功能

自診斷功能可以快速解決設(shè)備故障。此外，還增加了X射線管使用時間和耐久時間顯示功能，以支持維護(hù)安全。

薄膜厚度測量期間的光譜顯示

使用多通道進(jìn)行頻譜分析高速處理可實(shí)現(xiàn)對象的簡單操作和頻譜顯示。（處理速度約2-3秒）

顯示測量單位監(jiān)視器圖像

將X射線照射單元裝載在Windows屏幕上并顯示X射線照射單元。準(zhǔn)直器使得可以改變放大率。

關(guān)于Be window X射線管（選項(xiàng)）的性能提高（高精度）

            我們?yōu)閄射線熒光膜厚度計(jì)EX-731準(zhǔn)備了Be X射線管（可選）
            。通過使用該選項(xiàng)，
            可以在Cr測量和Ni測量中大大提高重復(fù)測量的精度。

            關(guān)于績效改進(jìn)的說明

            高能量（高原子序數(shù)）Sn 
         的測量與以前相同，但是在測量低能量（低原子序數(shù)）Cr和Ni的情況下，取決于膜厚度，Cr超過3倍，Ni超過2倍或更多重復(fù)
         倒鉤精度有所改善。如果在兩個層測量表面層的Au是略中間
         層的Ni已經(jīng)由約20％提高接收貢獻(xiàn)的精度。熒光X射線法的厚度計(jì)
         在生成其中獲得的熒光X射線強(qiáng)度的過程中的情況下，重復(fù)測定精度（標(biāo)準(zhǔn)偏差）
         是由于統(tǒng)計(jì)波動確定的，施加成為窗口的X射線管（可選）
         由此可知，與以往的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)相比，在Cr的情況下，獲得了約9倍以上的熒光X射線強(qiáng)度
         。因此，可以在短時間內(nèi)以與傳統(tǒng)相同的精度進(jìn)行測量。
         請考慮使用此Be窗口X射線管。

測量屏幕

直方圖

X射線熒光膜厚度計(jì)COSMOS-3X的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

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