日本電測膜厚計D-20

渦流膜厚度計D-20

薄型便攜式薄膜厚度計，可通過短時間測量滿足時代需求

·重量輕，體積小2.0 kg· 
測量開始的同時開關，測量時間在1秒以內
·高穩(wěn)定性（±1％）高精度
·無損，因為晶體振蕩檢測方法
·直讀式轉換不必要

渦流膜厚度計D-20的特點

輕巧緊湊

我可以隨身攜帶它。

可以立即進行測量

可以在打開開關的同時進行測量。測量時間也在1秒內。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

通過晶體振蕩方法實現高穩(wěn)定性（±1％）的高精度。

可以檢查

由于它是非破壞性的，因此可以進行檢查。

無需轉換

無需直接閱讀和轉換。

支持各種測量

可以在金屬，電鍍，涂漆，樹脂等上測量薄膜。（例如：鋁上的氧化膜，鐵上的鋅等鍍層，涂漆）。

它成為各種測量儀器

通過簡單地更換刻度板，它就成為各種測量儀器。

測量面積3 mm2或更多

對應于3 mm2或更大的測量面積。

非金屬上金屬薄膜的測量

它可以測量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

在曲面，球體或管道內也可以進行測量

也可以測量彎曲或球形體。另外，也可以測量管道等的內表面（φ12.7mm或更大）。

測量原理

當具有高頻電流的探針（探針線圈）靠近金屬時，在金屬表面中產生渦電流。該渦電流受高頻磁場的強度和頻率，金屬的導電性，厚度和形狀等的影響，并且穿透深度和其尺寸不同。 并且，由于渦電流流動以抵消探頭的高頻磁場，因此探頭的高頻電阻值發(fā)生變化。這種高頻電阻的變化被放大并顯示在儀表上。通過這樣做，可以從儀表的跳動中讀取膜厚度值。由于薄膜厚度值和儀表的偏差通常不成比例，因此使用直接讀數盤直接讀取薄膜厚度值。

渦流膜厚度計D-20的規(guī)格

注意：規(guī)格如有更改，恕不另行通知。

渦流膜厚度計D-20的探頭規(guī)格

日本電測膜厚計D-20 日本電測膜厚計D-20

TQ-50NG16

TQ-100NG16

TQ-150NG16

TQ-200NG16

TQ-300NG16

TQ-500NG16

TQ-1KNG16

TQ-1.5KNG16

TQ-2KNG16

TQ-3KNG16

TQ-4KNG16

TQ-5KNG16

TQ-7KNG16

TQ-10KNG16

TQR-200MNA32

TQR-500MNA32

TQR-1NA32

TQR-2NA32

TQR-3NA32

TQR-5NA32

TQT-2NB57M2G4

TQT-5NB57M2G4

TQT-10NB57M2G4

TQT-20NB57M2G4

TQT-30NB57M2G4

TQT-50NB57M2G4

TQT-70NB57M2G4

LC-10KNE450

LC-20KNE450

LT-5KNG56

LT-10KNG56

LT-20KN

PG-200MPG7

PG-300MPG7

PG-400MPG7